摘要标题：
关于母体牙科汞合金产前汞暴露和自闭症严重程度的前瞻性研究。
摘要来源：Acta Neurobiol Exp（战争）。 2009；69(2)：189-97。 PMID：19593333
摘要作者：David A Geier、Janet K Kern、Mark R Geier
文章隶属关系：David A Geier
摘要：含 50% 汞 (Hg) 的牙科汞合金过去 150 年来汞一直用于牙科，关键发育时期的汞暴露与自闭症谱系障碍 (ASD) 相关。这项研究调查了 100 名 1990 年至 1999 年间出生并被诊断患有 DSM-IV 自闭症（严重）或自闭症谱系障碍（轻度）的合格参与者，在怀孕期间因母体牙科汞合金而增加的汞暴露量。对怀孕期间母亲牙科汞合金五分位数进行的逻辑回归分析（调整年龄、性别、种族和居住地区）揭示了自闭症：AS 的比率对于<或=5个汞合金，D（严重：轻度）约为1（无影响），对于>或=6个汞合金，D（严重：轻度）增加。与具有<或= 5个汞合金的受试者相比，具有>或= 6个汞合金的受试者被诊断为自闭症（重度）的可能性比自闭症谱系障碍（轻度）高3.2倍。牙科汞合金政策应考虑女性在育龄前和育龄期间的汞暴露以及随后胎儿暴露和不良后果的可能性。