摘要标题：
半导体健康研究中制造工人自然流产的历史队列研究：代理水平分析。
摘要来源：Am J Ind Med。 1995 年 12 月；28(6):751-69。 PMID：8588562
摘要作者：S H Swan、J J Beaumont、SK Hammond、J VonBehren、RS Green、MF Hallock、S R Woskie、C J Hines、MB Schenker
文章隶属关系：部门加州大学公共卫生学院流行病学系，伯克利 94720，美国。
摘要：在一项针对 14 名员工的回顾性研究中，对自然流产 (SAB) 风险与化学和物理因素的关系进行了检查。半导体制造商：在对 6,000 多名员工进行筛选后，506 名现任员工和 385 名前员工符合资格。如果一名妇女多次符合条件怀孕，则随机选择一次。电话采访提供了有关人口统计和职业的数据妊娠早期的其他暴露。制造室 (fab) 工人中 45% 的 SAB 超额风险由两类化学品造成：光刻胶和显影溶剂 (PDS)，包括乙二醇醚和蚀刻中使用的氟化物。暴露于高水平这两种药物的女性面临更大的风险（RR = 3.21，95% 置信区间 [CI] = 1.29-5.96）。在没有这些暴露的晶圆厂工人中，SAB 率没有升高（调整后相对风险 [RR] = 0.98，95% CI = 0.55-1.69）。发现与工作场所压力存在关联，这种关联不仅限于接触 PDS 或氟化物的女性，压力也不能解释这些化学物质与 SAB 之间的关联。