暴露于电磁场后,牙科汞合金修复体中的汞释放量增加,对过敏人群和孕妇构成潜在危害。
摘要来源:Rev Environ Health。 2015;30(4):287-92。 PMID:26544100
摘要作者:Ghazal Mortazavi、S M J Mortazavi
文章隶属关系:Ghazal Mortazavi
摘要:在过去的几十年中,使用 Wi 等常见电磁场源-Fi 路由器和移动电话在全球范围内大幅增加。人们持续担心暴露于电磁场可能会对健康产生不利影响。最近的研究表明,即使是低剂量的汞也能引起毒性。因此,人们开始努力逐步减少或消除牙科修复中汞合金的使用。牙科汞合金中汞的释放量增加我们的团队和其他研究人员报告了暴露于电磁场(例如 MRI 和手机产生的电磁场)后的修复体。我们最近表明,一些报告 MRI 后汞释放量没有增加的论文可能存在一些方法学错误。尽管之前人们认为牙科用汞合金释放的汞量不会造成危险,但新的研究结果表明,即使是低剂量的汞也可能会引起毒性。根据最近的流行病学调查结果,可以说牙科汞合金填充物释放的汞的安全性值得怀疑。因此,由于一些人往往对汞的毒性作用过敏,监管机构应重新评估接受汞合金修复体的个人暴露于电磁场的安全性。另一方面,我们报告称,暴露于电磁场后汞释放量的增加可能对孕妇造成危险。它我值得一提的是,由于一些研究发现母体和脐带血汞含量之间存在很强的正相关性,因此我们关于暴露于电磁场对牙科汞合金填充物中汞释放的影响的研究结果使我们得出这样的结论:孕妇使用牙科汞合金填充物的儿童应限制其与电磁场的接触,以防止汞对胎儿产生毒性作用。基于这些发现,由于婴儿和儿童更容易接触汞,并且一些人经常接触不同来源的电磁场,因此我们可能需要在评估汞合金填充物的健康影响方面进行范式转变。