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暴露于 1.8 GHz 射频场的人晶状体上皮细胞氧化应激的研究。
摘要来源：PLoS One。 2013；8(8)：e72370。 Epub 2013 年 8 月 26 日。PMID：23991100
摘要作者：倪爽、于一博、张逸东、吴伟、赖凯然、姚可
文章所属单位：倪爽
摘要：目的：本研究的目的是确定氧化应激并探讨人晶状体上皮活性氧 (ROS) 增加的可能原因（ HLE) B3 细胞暴露于低强度 1.8 GHz 射频场 (RF)。
方法：将 HLE B3 细胞分开进入射频暴露组和射频假暴露组。 RF 暴露强度为 2、3 或 4 W/kg 的比吸收率 (SAR)。通过荧光探针 27-二氯荧光素二乙酸酯 (DCFH-DA) 测定法测量暴露于 1.8 GHz RF 0.5、1 和 1.5 小时的 HLE B3 细胞中的 ROS 水平。分别通过 MDA 测试和细胞计数试剂盒 8 (CCK-8) 测定法检测暴露于 1.8 GHz RF 6、12 和 24 小时的 HLE B3 细胞中的脂质过氧化和细胞活力。通过 qRT-PCR 和蛋白质印迹法测定暴露于 1.8 GHz RF 1 小时的 HLE B3 细胞中 SOD1、SOD2、CAT 和 GPx1 基因的 mRNA 表达以及 SOD1、SOD2、CAT 和 GPx1 蛋白的表达。
结果：RF 暴露组的 ROS 和 MDA 水平显着升高（P<0.05），并且细胞活力与RF相比，4个基因的mRNA表达量和4个蛋白的表达量均显着降低（P<0.05）火腿暴露组。
结论：暴露于 1.8 GHz 低强度射频和表明ROS产生的增加可能与射频暴露引起的四种抗氧化酶基因的下调有关。