摘要标题：
低水平职业暴露于极低频电磁场 (50/60 Hz) 的 DNA 影响。
摘要来源：Toxicol Ind Health。 2019 年 6 月；35(6):424-430。 Epub 2019 年 5 月 28 日。PMID：31138035
摘要作者：Rezvan Zendehdel、Il Je Yu、Behnam Hajipour-Verdom、Zahra Panjali
文章隶属关系：Rezvan Zendehdel
摘要：目标：暴露于极低频磁场（ ELF-MF）来自天然和人工来源。尽管 ELF-MF 已被国际癌症研究机构列为疑似人类致癌物，但人们对 ELF-MF 在推荐范围的较低暴露水平下的影响知之甚少。本研究调查了输电线工人外周血细胞中的 DNA 损伤。
材料和方法：使用美国国家职业安全与健康研究所 (NIOSH) 手册测量发电厂中 ELF-MF 的职业暴露。DNA 中的单链断裂 (SSB)使用彗星测定法对 29 名男性公用事业工人（作为暴露群体）和 28 名男性支持人员（作为对照受试者）进行评估，并使用 DNA 百分比来评估 ELF-MF 对受试者的影响。尾部、尾部长度、橄榄色长度和尾部力矩。
结果：实用程序中 ELF-MF 的职业暴露水平工作场所的磁场中值低于美国政府工业卫生学家会议 (ACGIH) 推荐的阈值限值 (TLV)。 DNA 感应强度的中值为 0.85μT。与对照组相比，暴露工人的损伤明显增加（<0.05）。
结论：暴露于低于 ACGIH 暴露限值的 ELF-MF 会导致 DNA 链断裂。